연사 : 김영용 박사 (DESY, Photon Science)

주제 : X-ray 측정을 이용한 정량적 분석 (Quantitative analysis of X-ray measurements)

 

발표자 소개:

김영용 박사는 세종대학교에서 나노신소재공학 학사, 포항공과대학교에서 고분자화학분야로 석박사 통합 학위를 받았습니다. 현재 독일 DESY Photon Science에서 Post-doc 연구원으로 근무하고 있습니다.

 

발표내용:

이번 발표에서는 박사과정과 post-doc 동안 수행했던 X-ray를 이용한 다양한 측정법 및 분석을 소개하고자 합니다. 특히, X-ray Scattering(Small/Wide angle, grazing incidence, solution)을 이용한 고분자 구조분석 예시를 보이고, Coherent Diffraction Imaging을 통한 single-nanoparticle의 구조변화 또는 meso-crystal의 구조분석 예시를 보이고자 합니다. 또한, 상관관계법을 이용한 방법에 대한 간략한 소개 및 예시를 보여드리고자 합니다.

 

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